[发明专利]检查装置及检查方法在审

专利信息
申请号: 201910262930.7 申请日: 2019-04-02
公开(公告)号: CN110346642A 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 星合则幸;宫崎伸一 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G06F3/041
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;刘宁军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种检查装置及检查方法,稳定地进行触摸面板的性能检查。一种触摸面板(1)的透明膜(11)的电阻值的检查装置(4),触摸面板层叠有透明膜、CF玻璃(12)以及TP传感器(13),检查装置(4)具备:积分电路(IR),其对TP传感器施加第1脉冲电压,取得触摸面板的背景电容;以及开关(SW2),其将透明膜连接到接地部或者相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源。
搜索关键词: 触摸面板 检查装置 脉冲电压 透明膜 传感器 背景电容 积分电路 性能检查 产生源 接地部 电阻 检查 施加 玻璃
【主权项】:
1.一种检查装置,检查触摸面板的透明膜的电阻值,其特征在于,上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的,上述检查装置具备:背景电容取得部,其对上述传感器施加第1脉冲电压,取得上述触摸面板的背景电容;以及切换部,其将上述透明膜连接到接地部和相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源中的任意一个。
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