[发明专利]一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法有效
申请号: | 201910266783.0 | 申请日: | 2019-04-03 |
公开(公告)号: | CN110061790B | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 吕鸣;高超;候浩浩;刘芳 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | H04B17/20 | 分类号: | H04B17/20;H04B1/10 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 张沫;谭辉 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法,方法包括步骤:S1,打开测量系统接收机,在测试频率范围内观测并记录射频干扰频谱位置;S2,在测试频率范围内对目标进行扫频RCS测试;S3,从扫频测试RCS数据中剔除射频干扰所在频率处的测试数据;S4,利用筛选后数据计算目标的一维散射中心;S5,利用目标的一维散射中心在测试频率范围内重构目标扫频RCS。由此方法,利用目标特征重构被干扰频段的目标回波,可有效抑制RCS测试中射频干扰。 | ||
搜索关键词: | 一种 rcs 测试 抑制 射频 干扰 方法 | ||
【主权项】:
1.一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法,其特征在于,方法包括以下步骤:S1,打开测量系统接收机,在测试频率范围内观测并记录射频干扰频谱位置;S2,在测试频率范围内对目标进行扫频RCS测试;S3,从扫频测试RCS数据中剔除射频干扰所在频率处的测试数据;S4,利用筛选后数据计算目标的一维散射中心;S5,利用目标的一维散射中心在测试频率范围内重构目标扫频RCS。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京环境特性研究所,未经北京环境特性研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910266783.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。