[发明专利]一种测试设备有效
| 申请号： | 201910267997.X | 申请日： | 2019-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN109974989B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 黄永 | 申请（专利权）人： | OPPO（重庆）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00;G01L5/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 唐双 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请涉及电子设备测试技术领域，并具体公开了一种测试设备，测试设备用于电子设备伸缩机构的顶出力性能测试，测试设备包括：机台；支撑治具模组，设置在机台表面，用于容置电子设备；可调节测力模组，设置在机台表面，且与支撑治具模组间隔设置；其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持可调节测力模组，可调节测力模组用于测试不同型号的电子设备伸缩机构的顶出力性能是否正常。通过上述方式，本申请能够对不同型号的电子设备伸缩机构的性能进行评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备用于电子设备伸缩机构的顶出力性能测试，所述测试设备包括：机台；支撑治具模组，设置在所述机台表面，用于容置电子设备；可调节测力模组，设置在所述机台表面，且与所述支撑治具模组间隔设置；其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持所述可调节测力模组，所述可调节测力模组用于测试不同型号的电子设备伸缩机构的顶出力性能是否正常。
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