[发明专利]离子注入设备中传感器的校准机构及其校准方法在审
申请号: | 201910270293.8 | 申请日: | 2019-04-04 |
公开(公告)号: | CN109990820A | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 黄家明 | 申请(专利权)人: | 德淮半导体有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;H01L21/67 |
代理公司: | 北京市一法律师事务所 11654 | 代理人: | 刘荣娟 |
地址: | 223300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请提供一种离子注入设备中传感器的校准机构,包括:传感器,所述传感器包括至少三个定位孔;校准架,所述校准架包括平行相对的第一校准面和第二校准面,用于承载所述传感器,所述第一校准面和第二校准面分别设置至少两个凹槽,通过所述凹槽与所述传感器的定位孔固定连接;以及辅助校准件,所述辅助校准件的一端被设置为用于与所述定位孔耦合连接,且所述辅助校准件的长度大于第一校准面和第二校准面之间的间距。本申请还提供一种利用所述校准机构校准传感器的方法,所述校准机构以及校准方法可以提高传感器位置的准确性,减少机台误报警。 | ||
搜索关键词: | 校准面 传感器 校准机构 定位孔 校准件 离子注入设备 校准架 校准 机台 传感器位置 校准传感器 平行相对 耦合连接 误报警 申请 承载 | ||
【主权项】:
1.一种离子注入设备中传感器的校准机构,其特征在于,包括:传感器,所述传感器包括至少三个定位孔;校准架,所述校准架包括平行相对的第一校准面和第二校准面,用于承载所述传感器,所述第一校准面和第二校准面分别设置至少两个凹槽,通过所述凹槽与所述传感器的定位孔固定连接;以及辅助校准件,所述辅助校准件的一端被设置为用于与所述定位孔耦合连接,且所述辅助校准件的长度大于第一校准面和第二校准面之间的间距。
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