[发明专利]一种电子产品可靠性水平预计方法在审
申请号: | 201910271883.2 | 申请日: | 2019-04-04 |
公开(公告)号: | CN110069838A | 公开(公告)日: | 2019-07-30 |
发明(设计)人: | 公杰 | 申请(专利权)人: | 成都摩尔环宇测试技术有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 成都科奥专利事务所(普通合伙) 51101 | 代理人: | 李志清 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种电子产品可靠性水平预计方法,其具体包括存储电子产品中包含的全部元器件的器件信息至终端数据库,器件信息包括元器件的种类信息、额定工作信息、额定使用条件信息与可靠性数据信息;根据存储在终端数据库内的器件信息,建立元器件可靠性预计清单,并根据可靠性预计清单形成模块树;根据模块树,对待预计的元器件进行信息匹配,并将匹配到的元器件的器件信息导入至待预计元器件属性中;整合待预计元器件的器件信息,并根据可靠性预计标准数据库,计算待预计元器件的可靠性水平值;统计电子产品中包含的全部元器件的可靠性水平值,得到电子产品的可靠性水平值。该方法为设计师把握产品的质量可靠性水平,提供了方便快捷的方式。 | ||
搜索关键词: | 元器件 器件信息 可靠性水平 电子产品可靠性 可靠性预计 终端数据库 模块树 电子产品 使用条件信息 元器件可靠性 标准数据库 可靠性数据 质量可靠性 存储电子 工作信息 信息匹配 种类信息 整合 匹配 存储 统计 | ||
【主权项】:
1.一种电子产品可靠性水平预计方法,其特征在于:包括S1.存储电子产品中包含的全部元器件的器件信息至终端数据库,所述器件信息包括所述元器件的种类信息、额定工作信息、额定使用条件信息与可靠性数据信息;S2.根据存储在终端数据库内的器件信息,建立元器件可靠性预计清单,并根据可靠性预计清单形成模块树;S3.根据所述模块树,对待预计的元器件进行信息匹配,并将匹配到的元器件的器件信息导入至待预计元器件属性中;S4.整合待预计元器件的器件信息,并根据可靠性预计标准数据库,计算待预计元器件的可靠性水平值;S5.统计电子产品中包含的全部元器件的可靠性水平值,得到所述电子产品的可靠性水平值。
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