[发明专利]一种测量85 有效
申请号: | 201910273942.X | 申请日: | 2019-04-08 |
公开(公告)号: | CN109917444B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 曾军;向永春;罗飞;迮仁德;王红侠;郝樊华;向清沛 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
主分类号: | G01T1/203 | 分类号: | G01T1/203 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 翟长明;韩志英 |
地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本发明公开了一种测量 |
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搜索关键词: | 一种 测量 base sup 85 | ||
【主权项】:
1.一种测量85Kr的叠层反符合探测器,包括样品接口(1)、测量闪烁体顶盖(3)、隔离薄膜(4)、测量闪烁体杯身(5)、不锈钢外壳(8)、反符合闪烁体(13)、光电倍增管(14)、分压及读出电路(15)、电源接口(16)、信号接口(17),所述的样品接口(1)上安装有阀门(2);所述的不锈钢外壳(8)包裹整个探测器外围;其特征在于:所述的测量闪烁体杯身(5)与测量闪烁体顶盖(3)通过连接螺纹(7)密封连接形成测量闪烁体容器,测量闪烁体容器的中空部分为储存待测85Kr的样品池(12),测量闪烁体容器固定在反符合闪烁体(13)的内部,样品池(12)的样品接口(1)穿过不锈钢外壳(8)与测量闪烁体顶盖(3)连接,样品接口(1)通过固定凸台(6)焊接在不锈钢外壳(8)上;所述的隔离薄膜(4)蒸镀在测量闪烁体容器的内表面,将样品池(12)与测量闪烁体完全隔离;所述的反符合闪烁体(13)外表包裹反光层(9),反光层(9)紧密贴合在不锈钢外壳(8)内,反符合闪烁体(13)与测量闪烁体杯身(5)通过光耦合剂层Ⅰ(10)耦合;所述的光电倍增管(14)通过光耦合剂层Ⅱ(11)与反符合闪烁体(13)耦合,光电倍增管(14)的后端连接分压及读出电路(15),分压及读出电路(15)具有电源接口(16)和信号接口(17),电源接口(16)连接外接的高压电源,信号接口(17)输出测量信号。
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