[发明专利]天线抗干扰材料检测方法在审
| 申请号： | 201910277937.6 | 申请日： | 2019-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN109991283A | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 刘龙;贾立民 | 申请（专利权）人： | 深圳市德卡科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02;G01R27/02;G01R29/10 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂;鞠骁 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种天线抗干扰材料检测方法。所述天线抗干扰材料检测方法先将待测吸波材料片设于天线的一侧并将天线的阻抗调整为预设的参考阻抗，而后将金属片设置于待测吸波材料片远离天线一侧的预设位置，测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的预设位置时天线的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量，随后将待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较以判定待测吸波材料片的材料是否符合标准，能够高效且准确地对吸波材料的性能进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 吸波材料 天线 抗干扰材料 参考阻抗 天线阻抗 预设位置 变化量 金属片 预设 检测 标准变化 实际阻抗 阻抗调整 判定 测量 测试 | ||
【主权项】：
1.一种天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供天线(1)、待测吸波材料片(2)及金属片(3)；步骤S2、将待测吸波材料片(2)设于天线(1)的一侧；步骤S3、将天线(1)的阻抗调整为预设的参考阻抗；步骤S4、将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)一侧的预设位置，测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的预设位置时天线(1)的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量；步骤S5、将待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较，若待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量满足预设的标准变化范围时，则判定该待测吸波材料片(2)的材料符合标准，否则判定该待测吸波材料片(2)的材料不符合标准。
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