[发明专利]一种新型光学曲面二维测量方法及其测量系统在审
| 申请号： | 201910278894.3 | 申请日： | 2019-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN110017792A | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 王钢;卫欣欣 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 广州圣理华知识产权代理有限公司 44302 | 代理人： | 李唐明;顿海舟 |
| 地址： | 510260 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种新型光学曲面二维测量系统，所述系统包括光源检测端、探测器、待测平台及计算机；所述光源检测端包括若干激光光源，所述若干激光光源呈半球状均匀分布形成光源检测端；所述光源检测端设于待测平台上方，所述待测平台上置放有待测物；所述探测器置于待测平台正上方，且位于光源检测端内的顶部，并与计算机连接；所述激光光源向待测物发射入射光线，所述探测器接收经待测物反射的反射光线并生成光斑信息；所述计算机接收来自探测器的光斑信息，经处理器分析生成对应的被测物的表面面形信息。该测量系统可以一次测量采集整个曲面信息，避免了测量过程中多点多次采集数据；具有结构简单，成本低，且能得到较为准确的测量结果的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 光源检测 探测器 激光光源 测量系统 光斑信息 新型光学 待测物 二维测量系统 计算机接收 计算机连接 表面面形 采集数据 测量过程 二维测量 反射光线 曲面信息 入射光线 一次测量 半球状 被测物 处理器 置放 反射 采集 发射 计算机 分析 | ||
【主权项】：
1.一种新型光学曲面二维测量方法，其特征在于，该方法需应用光源检测端、探测器、待测平台及计算机；该方法包括以下步骤：S1：若干个激光光源呈半球状均匀分布形成光源检测端；S2：所述若干个激光光源同时向待测物发射入射光线；S3：待测物接收入射光线，并由待测物表面反射出一组反射光线；S4：探测器接收反射光线，并在探测器中形成对应的光斑信息；S5：计算机接收来自探测器的光斑信息，并由计算机处理器通过数据分析算法分析光斑信息，生成对应的被测物表面面形信息。
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