[发明专利]一种阵列基板缺陷判定方法、处理器及判定系统有效
| 申请号： | 201910287502.X | 申请日： | 2019-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN109959666B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 邹克;何林峰;胡岩;韩明昆;袁洪光;张科;冯星;冯鹏 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 郭润湘 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列基板缺陷判定方法、处理器及判定系统，该方法包括：实时获取待判别阵列基板当前扫描区域的表面图像数据；对获取到的表面图像数据进行处理，确定阵列基板存在的缺陷与扫描时间的对应关系；根据缺陷与扫描时间的对应关系、预存储的扫描时间与扫描位置的对应关系以及预存储的缺陷类型规则，确定阵列基板中存在缺陷的类型。上述方法可以根据实时获取待判别阵列基板当前扫描区域的表面图像数据，确定阵列基板中存在缺陷的类型，无需工程师进行人为判定，节约了缺陷判定时间，根据判定结果可以及时对缺陷进行处理，避免大量的经济损失。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 缺陷 判定 方法 处理器 系统 | ||
【主权项】：
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