[发明专利]缺陷检测/处理方法和装置在审

专利信息
申请号: 201910296074.7 申请日: 2019-04-12
公开(公告)号: CN111813786A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 高钰;周利;黄瑞瑞;吴永明;龙舟 申请(专利权)人: 阿里巴巴集团控股有限公司
主分类号: G06F16/23 分类号: G06F16/23;G06F16/27
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 钱秀茹
地址: 英属开曼群岛大开*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请公开了缺陷检测方法和装置,缺陷处理方法和装置。其中,缺陷检测方法包括:确定分布式系统中具有原子性关系的多个共享数据处理操作的执行轨迹;根据执行轨迹确定候选的失效原子性缺陷;运行分布式系统,并将与候选的失效原子性缺陷对应的节点失效注入至分布式系统;获取运行分布式系统后的与失效原子性缺陷相关的多个共享数据;若多个共享数据不一致,则确定失效原子性缺陷。采用这种处理方式,使得通过观察分布式系统的一次正确执行,无需注入节点失效,即可预测可能的原子性违反错误,并通过最后重放工作负载,注入节点失效,确定性地确认缺陷、重放缺陷;因此,可以有效检测出失效原子性缺陷,从而提升分布式系统的可靠性。
搜索关键词: 缺陷 检测 处理 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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