[发明专利]一种用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法

摘要

本发明公开了一种用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法，使用Nakagami分析逼近光声信号幅值包络的概率密度函数，获得最优化的模型参数，该技术可以定征微观随机结构的数量密度。光声光谱分析方法可以定量表征深部组织中亚波长级微观结构的尺寸信息，但仅有尺寸属性不能准确、完整地表示微观结构属性。本发明结合功率谱分析方法和光声信号包络Nakagami统计方法，通过集成它们可以实现更全面的微观结构表征，包括特征尺寸和数量密度。由于许多疾病与微观结构变化密切相关，这项工作有助于这些疾病的诊断和分期，且具有较高的易用性和安全性。

主权项

1.一种用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法，其特征在于：包括如下步骤：(1)测量声光信号；(2)通过数据直方图来描述光声信号的幅度包络，统计光声信号幅度的概率密度函数；(3)采用Nakagami分布逼近概率密度函数，得到Nakagami分布的最优参数；(4)将光声信号分成连续的若干帧，利用步骤(2)和(3)的方法计算每一帧的Nakagami分布最优参数；(5)改变超声换能器的位置，并重复步骤(1)～(4)，得到不同位置采集到的光声信号对应的形状参数的时间序列；(6)将Nakagami分布的最优形状参数时间序列作为成像参数，采用延迟求和算法，计算样品中坐标为r的微观随机结构所对应的Nakagami分布的形状参数的平均值，从而获得样品的光声图像S(r)；(7)通过光声图像S(r)的对比度定征微观随机结构数量密度。