[发明专利]一种横向肖特基栅双极晶体管及其制作方法有效
申请号: | 201910304385.3 | 申请日: | 2019-04-16 |
公开(公告)号: | CN110034183B | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 段宝兴;孙李诚;王彦东;杨银堂 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/47;H01L29/73;H01L29/735;H01L21/331;H01L21/28 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 胡乐 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提出了一种横向肖特基栅双极晶体管(LSGBT)及其制作方法。该LSGBT器件将LIGBT结构的源漏区与MESFET结构的肖特基栅相结合,使用肖特基栅代替绝缘栅,同时其栅结构与常规MESFET的沟槽栅结构类似,而其余部分则与常规LIGBT结构类似。相比于LIGBT,LSGBT器件结构中不存在寄生的NPN晶体管结构,有利于消除闩锁效应,增强了器件的稳定性;栅控方式由绝缘栅变为肖特基栅,不仅可以降低栅极工艺的复杂度,解决宽带隙半导体材料的氧化问题,还可以保留电压控制器件的优点,即具有高输入阻抗。该LSGBT器件尤其适用于低压大电流领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 横向 肖特基栅 双极晶体管 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种横向肖特基栅双极晶体管,包括:P型衬底(801);在P型衬底(801)上表面形成的N型外延层(802);在N型外延层(802)上部的右端区域形成的N型缓冲区(106)以及在N型缓冲区(106)上部形成的P型漏区(105);在N型外延层(802)上部的左端区域形成的N型源区(104);源极(101),位于N型源区(104)的上表面;漏极(102),位于P型漏区(105)的上表面;其特征在于:在N型外延层(802)上部的中央区域形成栅槽,栅极(103)位于栅槽底部,栅长为0.5~1微米,栅极(103)与源极(101)、漏极(102)的距离分别为0.2~0.5微米和0.6~0.9微米;所述栅槽的深度为1~3微米,根据源漏饱和电流确定。
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