[发明专利]一种横向肖特基栅双极晶体管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201910304385.3 申请日: 2019-04-16
公开(公告)号: CN110034183B 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 段宝兴;孙李诚;王彦东;杨银堂 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/47;H01L29/73;H01L29/735;H01L21/331;H01L21/28
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 胡乐
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出了一种横向肖特基栅双极晶体管(LSGBT)及其制作方法。该LSGBT器件将LIGBT结构的源漏区与MESFET结构的肖特基栅相结合,使用肖特基栅代替绝缘栅,同时其栅结构与常规MESFET的沟槽栅结构类似,而其余部分则与常规LIGBT结构类似。相比于LIGBT,LSGBT器件结构中不存在寄生的NPN晶体管结构,有利于消除闩锁效应,增强了器件的稳定性;栅控方式由绝缘栅变为肖特基栅,不仅可以降低栅极工艺的复杂度,解决宽带隙半导体材料的氧化问题,还可以保留电压控制器件的优点,即具有高输入阻抗。该LSGBT器件尤其适用于低压大电流领域。
搜索关键词: 一种 横向 肖特基栅 双极晶体管 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种横向肖特基栅双极晶体管,包括:P型衬底(801);在P型衬底(801)上表面形成的N型外延层(802);在N型外延层(802)上部的右端区域形成的N型缓冲区(106)以及在N型缓冲区(106)上部形成的P型漏区(105);在N型外延层(802)上部的左端区域形成的N型源区(104);源极(101),位于N型源区(104)的上表面;漏极(102),位于P型漏区(105)的上表面;其特征在于:在N型外延层(802)上部的中央区域形成栅槽,栅极(103)位于栅槽底部,栅长为0.5~1微米,栅极(103)与源极(101)、漏极(102)的距离分别为0.2~0.5微米和0.6~0.9微米;所述栅槽的深度为1~3微米,根据源漏饱和电流确定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910304385.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top