[发明专利]生产TEM样品的方法在审

专利信息
申请号: 201910306630.4 申请日: 2019-04-16
公开(公告)号: CN110389144A 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: J.比伯格;S.伦格魏勒 申请(专利权)人: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;H01J37/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王蕊瑞
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 在生产TEM样品的方法中,物体(3)紧固到物体固持器(13)的元件(19)上使得该物体(3)的待加工的表面(11)被布置成与该元件(19)的旋转轴线(23)基本上垂直。离子束以掠入射被引导至待加工的表面(11),其中,当离子束被引导至待加工的表面(11)时,该元件(19)采用相对于旋转轴线(23)的不同的旋转位置。
搜索关键词: 旋转轴线 离子束 加工 旋转位置 固持器 紧固 入射 垂直 生产
【主权项】:
1.一种使用粒子束系统来生产TEM样品的方法,该粒子束系统包括:离子束柱(25)和物体固持器(13),其中,该物体固持器(13)包括基座元件(15)、第一元件(17)、第二元件(19)、第一致动器、以及第二致动器,其中,该第一致动器被配置用于使该第一元件(17)相对于该基座元件(15)围绕第一旋转轴线(21)旋转,其中,该第二致动器被配置用于使该第二元件(19)相对于该第一元件(17)围绕第二旋转轴线(23)旋转,并且其中,该第一旋转轴线(21)基本上垂直于该第二旋转轴线(23)定向;其中,该方法包括:将物体(3)紧固到该物体固持器(13)的第二元件(19)上使得该物体(3)的待加工的表面(11)基本上垂直于该第二旋转轴线(23)布置;并且通过将该物体(3)抛光来生产该TEM样品,其中,抛光包括:‑控制该第一致动器使得该离子束柱(25)的主轴线(29)与待加工的该表面(11)成掠入射(α)而定向,并且控制该第二致动器使得该第二元件(19)相对于该第一元件(17)具有围绕该第二旋转轴线(23)的第一旋转位置;‑当该离子束柱(25)的主轴线(29)与待加工的该表面(11)成掠入射(α)而定向、并且该第二元件(19)相对于该第一元件(17)具有围绕该第二旋转轴线(23)的第一旋转位置时,将该离子束柱(25)产生的离子束引至该物体(3);‑控制该第一致动器使得该离子束柱(25)的主轴线(29)与待加工的该表面(11)成掠入射(α)而定向,并且控制该第二致动器使得该第二元件(19)相对于该第一元件(17)具有围绕该第二旋转轴线(23)的第二旋转位置,其中,该第二旋转位置与该第一旋转位置不同;并且‑当该离子束柱(25)的主轴线(29)与待加工的该表面(11)成掠入射(α)而定向、并且该第二元件(19)相对于该第一元件(17)具有围绕该第二旋转轴线(23)的第二旋转位置时,将该离子束柱(25)产生的离子束引至该物体(3)。
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