[发明专利]触摸感测装置在审
| 申请号： | 201910308647.3 | 申请日： | 2019-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN110389680A | 公开（公告）日： | 2019-10-29 |
| 发明（设计）人： | 孙知德 | 申请（专利权）人： | 硅工厂股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;臧建明 |
| 地址： | 韩国大田广域*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一个示范性实施例提供一种触摸感测装置，包含：第一处理器，配置成识别在不存在触摸或外部对象不接近面板的状态下在安置于面板上的多个电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值；存储单元，配置成存储指示在多个电极当中对应于缺陷性感测值的缺陷性电极的信息；以及第二处理器，配置成使用邻近于缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在多个电极的第二感测值当中对应于缺陷性电极的感测值。 | ||
| 搜索关键词： | 电极 感测 缺陷性 触摸感测 配置 第二处理器 第一处理器 存储单元 存储指示 缺陷确定 外部对象 触摸 邻近 安置 | ||
【主权项】：
1.一种触摸感测装置，包括：第一处理器，配置成识别在不存在触摸或外部对象不接近面板的状态下在安置于所述面板上的多个电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值；存储单元，配置成存储指示在所述多个电极当中对应于所述缺陷性感测值的缺陷性电极的信息；以及第二处理器，配置成使用邻近于所述缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在所述多个电极的第二感测值当中对应于所述缺陷性电极的感测值，其中所述多个电极的所述第二感测值是当存在触摸或所述外部对象接近所述面板时的感测值。
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