[发明专利]一种复杂卫星本体多径干扰高精度测试评估方法有效

专利信息
申请号: 201910309066.1 申请日: 2019-04-17
公开(公告)号: CN110198176B 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 皇甫松涛;刘彬;闫金栋;刘天雄;谢军;申洋赫 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部
主分类号: H04B1/711 分类号: H04B1/711;H04B17/345;H04B7/185
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 高会允;仇蕾安
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种复杂卫星本体多径干扰高精度测试评估方法,能够在复杂的外场条件下达到对卫星本体多径干扰进行高精度测试评估的效果。具体为:首先在只有被测分部A存在的情况下,计算得到含环境多径项的被测分部A主径信道传输函数H(ω)。然后在被测分部A与其他一个或多个被测分部的组合体存在的情况下,计算得到含环境多径项、组合体本体多径组合的信道传输函数H(ω)+H1(ω),将本体多径信道H1(ω)拆分为本体多径反射信道H1'(ω)和本体多径传输信道H1”(ω)两部分级联,将组合体信道传递函数H(ω)+H1(ω)与被测分部A主径传递函数H(ω)进行相除对消,求解得到组合体中除被测分部A的其他被测分部多径反射信道传递函数H'(ω),作为本体多径干扰的定量评估结果。
搜索关键词: 一种 复杂 卫星 本体 干扰 高精度 测试 评估 方法
【主权项】:
1.一种复杂卫星本体多径干扰高精度测试评估方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1)划分被测件区域、测量天线区域以及无线信道区域三部分;所述被测件区域为:用于放置被测件的、半开放的微波暗室或者吸波材料搭建的场地;所述测量天线区域为:用于放置测量天线的、半开放的微波暗室或者吸波材料搭建的场地;所述无线信道区域为:在所述被测件与所述测量天线之间的区域;其中所述被测件与所述测量天线之间相对位置不变、所述无线信道区域视野无遮挡;步骤2)所述被测件分为n个被测分部;选取其中一个被测分部A与所述测量天线之间的信道为主径信道,则其他部分与所述测量天线之间的信道为本体多径信道;步骤3)在所述被测件区域设置射频信号生成装置、第一功率放大装置、射频信号接收装置以及射频信号处理装置;在所述测量天线区域设置第二功率放大装置以及射频信号发射装置;步骤4)在所述被测件区域,只有被测分部A存在的情况下,利用所述射频信号生成装置产生第一扫频信号,利用第一功率放大装置放大后馈入被测件A,第一扫频信号经过无线信道传输至测量天线区域;步骤5)测量天线接收第一扫频信号,利用第二功率放大装置放大后通过射频信号发射装置将信号经由无线信道传输至射频信号接收装置,计算得到含环境多径项的被测分部A主径信道传输函数H(ω);步骤6)在被测分部A与其他一个或多个被测分部的组合体存在的情况下,利用射频信号生成装置产生第二扫频信号,利用第一功率放大功能的装置放大后将信号馈入所述组合体,第二扫频信号经过无线信道传输至测量天线;步骤7)测量天线接收所述第二扫频信号,利用第二功率放大功能的装置放大后通过射频信号传输装置将信号传输至射频信号接收处理装置,计算得到含环境多径项、组合体本体多径组合的信道传输函数H(ω)+H1(ω),将本体多径信道H1(ω)拆分为本体多径反射信道H1'(ω)和本体多径传输信道H1”(ω)两部分级联,测量天线区域与被测件区域之间的距离满足远场条件时,本体多径传输信道H1”(ω)与主径信道传输函数H(ω)等价,即H1(ω)=H(ω)·H1'(ω);步骤8)将步骤7)中处理得到的被测分部的组合体信道传递函数H(ω)+H1(ω)与步骤5)中测量得到的被测分部A主径传递函数H(ω)进行相除对消,即得到即单位冲激响应与本体多径反射信道传递函数之和1+H'(ω),从而求解得到组合体中除被测分部A的其他被测分部多径反射信道传递函数H'(ω),作为本体多径干扰的定量评估结果;9)构建被测分部A与不同的被测分部的组合体,重复步骤6)至步骤8),从而得到被测分部多径反射信道传递函数H'(ω),作为本体多径干扰的定量评估结果。
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