[发明专利]测距装置以及测距模块在审
| 申请号： | 201910311185.0 | 申请日： | 2019-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN110416199A | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 尾山雄介;菊地健;大鸟居英;大谷荣二;森田宽 | 申请（专利权）人： | 索尼公司;索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | H01L25/16 | 分类号： | H01L25/16;G01S7/481;G01S17/08 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 崔迎宾;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供测距装置以及测距模块，结构简单且能够使发光元件与受光元件一体化。具有发光元件的发光基板经由第一凸块与电路基板连接，具有单体或二维状配置的受光元件的受光基板经由第二凸块与电路基板连接。透镜的光轴、发光元件的光轴以及受光元件的中心轴配置在大致同轴上。本技术能够应用于进行测距的测距装置等。 | ||
| 搜索关键词： | 测距装置 发光元件 受光元件 电路基板连接 测距模块 光轴 凸块 测距 透镜 二维状配置 发光基板 受光基板 中心轴 同轴 一体化 配置 应用 | ||
【主权项】：
1.一种测距装置，其特征在于，具备：透镜；电路基板；发光基板，具有发光元件；以及受光基板，具有单体或者二维状配置的受光元件，所述发光基板经由第一凸块与所述电路基板连接，所述受光基板经由第二凸块与所述电路基板连接，所述透镜的光轴、所述发光元件的光轴以及所述受光元件的中心轴配置在同轴上。
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