[发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201910317402.7 | 申请日： | 2019-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN110031511B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 梅红伟;涂彦昕;胡伟;刘健犇;刘立帅;王黎明 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院;中国电力科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人： | 曾昭毅;郑海威 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种缺陷检测装置，用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷，所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台，所述固定装置具有一空腔，所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内，所述放置台置于所述空腔内，所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩，所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处，所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。本发明还提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统及缺陷检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷检测装置，用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷，其特征在于，所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台，所述固定装置具有一空腔，所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内，所述放置台置于所述空腔内，所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩，所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处，所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。
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