[发明专利]一种荧光纳米标尺部件及其制备和应用有效

专利信息
申请号: 201910318120.9 申请日: 2019-04-19
公开(公告)号: CN110095441B 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 唐玉国;张志强;史国华;蒋克明;周武平;刘聪;张涛;黎海文 申请(专利权)人: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G03F7/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 谢楠
地址: 215163 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及超高分辨率荧光显微成像技术领域,具体涉及一种荧光纳米标尺部件及其制备和应用;本发明所述荧光纳米标尺部件包括基底层和掩模层,所述掩模层的对应位置上间隔设置沟槽,所述沟槽的截面宽度为10‑200nm,掩模沟槽尺寸(宽度)小,从而保证采用所述荧光纳米标尺部件组装的荧光纳米标尺精确,可以满足对超高分辨荧光显微镜的分辨率进行标定测量的要求。
搜索关键词: 一种 荧光 纳米 标尺 部件 及其 制备 应用
【主权项】:
1.一种荧光纳米标尺部件,包括基底(1)和基底上形成的掩模层(2),所述掩模层包括间隔设置的沟槽(21),所述沟槽的截面宽度为10‑200nm。
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