[发明专利]用于不良分析的取片系统及取片方法有效
| 申请号： | 201910319979.1 | 申请日： | 2019-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN109946862B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 欧阳幸;陈立林;黄慧慧 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂;程晓 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于不良分析的取片系统及取片方法。本发明的用于不良分析的取片系统包括报表系统和作业系统；所述报表系统对产线上的面板信息进行收集并显示，所述作业系统对产线上的面板的流向进行指定作业；使用者向所述报表系统输入取片逻辑，所述报表系统内置有逻辑开发模块，所述报表系统由逻辑开发模块根据取片逻辑选择出需解析面板，并将需解析面板的数据信息传递给作业系统，所述作业系统对需解析面板添加流程代码并对需解析面板执行跳站操作，所述作业系统将需解析面板转送到拔片站点；因此，本发明能够实现在产线面板异常发生时及时做出拔片分析的动作，大幅提升不良分析取片的自动化与智能化作业水平。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 不良 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TCL华星光电技术有限公司，未经TCL华星光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910319979.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
