[发明专利]一种基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法

摘要

本发明公开了一种基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法，包括步骤：S1、获取薄层反射系数能谱；S2、利用所述薄层反射能谱求取对频率的一阶及三阶导数；S3、利用步骤S2中求取的对频率的一阶及三阶导数获取薄层时间厚度；S4、将步骤S3得到的薄层时间厚度计算公式转换到深度域得到薄层厚度。本发明方法利用了薄层反射系数能谱随频率变化的特征，在频率域进行公式推导，以更少的近似来进行薄层厚度预测。本发明方法中对于随频率变化的薄层反射系数，考虑其能谱，在频率域进行厚度预测，公式简单，计算快捷，能够高精度的进行薄层厚度预测。

主权项

1.一种基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、获取薄层反射系数能谱；S2、利用所述薄层反射能谱求取对频率的一阶及三阶导数：(R²(f))′＝‑4A₁A₂πΔtsin(2πfΔt)           (1)；(R²(f))″′＝16A₁A₂π³(Δt)³sin(2πfΔt)        (2)；其中，A₁＝R₁V_Pa1＝(V_P2+V_P1)/2；ΔV_P1＝V_P2‑V_P1；ρ_a1＝(ρ₂+ρ₁)/2；Δρ₁＝ρ₂‑ρ₁；V_Pa2＝(V_P3+V_P2)/2；ΔV_P2＝V_P3‑V_P2；ρ_a2＝(ρ₃+ρ₂)/2；Δρ₂＝ρ₃‑ρ₂；       (6)；R₁、R₂分别是顶界面和底界面的PP波反射系数，Δt为薄层的时间厚度，V_pi、ρ_i(i＝1,2,3)分别为薄层模型各层i的纵波速度和密度，f为频率；S3、利用步骤S2中求取的对频率的一阶及三阶导数获取薄层时间厚度如下：S4、将步骤S3得到的薄层时间厚度计算公式转换到深度域得到薄层厚度如下：