[发明专利]高纯稀土氧化物中痕量/超痕量杂质定量测量方法有效
| 申请号： | 201910327118.8 | 申请日： | 2019-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN110057900B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 张见营;周涛 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/626 | 分类号： | G01N27/626;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 吴爱琴 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种高纯稀土氧化物中痕量/超痕量杂质测量方法。包括：制备导电辅助装置；将装载了稀土氧化物样品的高纯铜柱体置于GDMS中进行检测，溅射；采用粉末掺杂法制备铜基校正样品；GDMS对制备得到的铜基校正样品进行分析，得到相对灵敏度因子RSF，根据相对灵敏度因子及GDMS检测得到的数据，按照公式(2)，计算得到稀土氧化物样品中杂质的含量。GDMS为固体直接测量方法，因此相对于目前常用的湿法避免了复杂的样品处理过程，大大提高了分析效率，而且可以避免在消解过程中的元素损失与污染；可同时检测73种元素，且检出限低，对于大部分元素，其定量检出限(LoQ)在ng/g量级，满足痕量/超痕量杂质的准确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 高纯 稀土 氧化物 痕量 杂质 定量 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种导电辅助装置，包括一个高纯铜柱体，所述高纯铜柱体的中间开设有一个通孔，所述通孔用于装载待测稀土氧化物样品。
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