[发明专利]硬件状态分析方法、装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 201910333538.7 | 申请日： | 2019-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN110037718B | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 邓子林 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 朱五云;黄易 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种硬件状态分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备将获取的不同状态下的辐射计数数据输入至预设的神经网络中，可以得到PET系统的硬件状态分析数据，由于该PET系统的硬件状态分析数据用于预测预设工作时长之后的辐射计数数据、初始状态的辐射计数数据和扫描图像的均匀性数据，相当于从多个方面对PET系统的硬件状态进行了分析，有效的综合反映了PET系统硬件状态的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 硬件 状态 分析 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种硬件状态分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取正电子发射型计算机断层显像PET系统初始状态下的第一辐射计数数据；获取所述PET系统工作预设时长后的第二辐射计数数据；将所述第一辐射计数数据和所述第二辐射计数数据输入至预设的神经网络中，得到所述PET系统的硬件状态分析数据；所述PET系统的硬件状态分析数据用于预测预设工作时长之后的辐射计数数据、初始状态的辐射计数数据和扫描图像的均匀性数据。
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