[发明专利]校准系统和校准方法有效

专利信息
申请号: 201910333808.4 申请日: 2019-04-24
公开(公告)号: CN110412520B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 河村尚志;布施匡章 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;H01Q3/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 金兰
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种校准系统和校准方法,其即使在相对于从被测量天线的多个天线元件发送的无线信号的波长而言天线元件间的间隔窄的情况下,也能够测量被测量天线的电磁波辐射面中的无线信号的振幅和相位。该校准系统具有:天线控制单元(16),其从被测量天线(100)所具有的多个天线元件之中选择并激励一组天线元件后,选择并激励与一组天线元件不同的一组天线元件;以及探针天线(12),其在每次切换通过天线控制单元(16)选择的一组天线元件时,在被测量天线(100)的近场区域的规定的测量平面P内设定的多个测量位置处,接收从一组天线元件发送的无线信号。
搜索关键词: 校准 系统 方法
【主权项】:
1.一种校准系统,其具有:探针天线(12,26),其在具有多个天线元件(T1~TN)的被测量天线的近场区域的规定的测量平面内设定的多个测量位置处,接收无线信号;振幅相位测量单元(17),其测量通过所述探针天线接收到的无线信号的振幅和相位;以及反投影处理单元(18),其基于通过所述振幅相位测量单元测量到的振幅和相位,计算所述被测量天线的电磁波辐射面(100a)中的无线信号的振幅分布和相位分布,在所述校准系统中,进一步具有:天线控制单元(16),其从所述多个天线元件(T1~TN)之中选择并激励一组天线元件后,选择并激励与所述一组天线元件不同的一组天线元件,所述探针天线接收从各所述一组天线元件发送的无线信号,所述反投影处理单元计算从各所述一组天线元件发送的无线信号的振幅分布和相位分布,在所述校准系统中,进一步具有:振幅相位提取单元(19),其根据通过所述反投影处理单元计算出的振幅分布和相位分布,提取所述电磁波辐射面中的各所述一组天线元件的位置所对应的振幅和相位的值;以及第1相位计算单元(20),其根据通过所述振幅相位提取单元提取出的相位的值,计算所述电磁波辐射面中的所述多个天线元件各自的位置所对应的相位。
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