[发明专利]存储单元检测方法及存储器检测方法在审
| 申请号： | 201910335924.X | 申请日： | 2019-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN111863105A | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 杨正杰;蓝国维;孙力 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及存储单元检测技术领域，提出一种存储单元检测方法及存储器检测方法，所述存储单元包括用于存储数据信号的存储单元，存储单元检测方法包括：对所述存储单元进行功能检测；以及当所述存储单元的存储功能合格时，再对所述存储单元进行至少一次所述功能检测。其中，所述功能检测包括：向所述存储单元写入高电平信号；在预设时长间隔后检查所述存储单元的电平状态；以及根据所述存储单元的电平状态判断所述存储单元的存储功能状态。本公开可以精确地检测出存储单元的储存功能状态。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 单元 检测 方法 存储器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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