[发明专利]一种基于CIS的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质

摘要

本发明公开了一种基于CIS的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质，使CIS传感器对圆柱体表面采集模拟图像，对模拟图像转换的数字图像进行补偿处理，对补偿后的数字图像特征分析和缺陷检测；通过CIS传感器实现对圆柱体表面的缺陷检测，克服人工检测效率低、错误率高和线阵相机造价昂贵、体积大的缺点，同时对CIS的图像进行补偿处理，优化成像效果，使特征分析和缺陷检测具有更高的准确性。

主权项

1.一种基于CIS的圆柱体表面检测方法，其特征在于，包括以下步骤：使CIS传感器对旋转的圆柱体采集模拟图像；将模拟图像转换为数字图像；对数字图像的每个像素进行补偿处理；对经补偿处理的数字图像进行特征分析和缺陷检测；其中所述对数字图像的每个像素进行补偿处理包括：测量CIS传感器分别在曝光与不曝光的情况下的基础数值，所述基础数值包括曝光的每个像素的算术平均值Va_n、曝光的每个像素的算术最大值Vamax_n、不曝光的每个像素的算术平均值Vb_n和不曝光的每个像素的算术最大值Vbmax_n；根据G_n＝(Vamax_n‑Vbmax_n)/(Va_n‑Vb_n)和OFFSET_n＝Vamax_n‑(Vamax_n‑Vbmax_n)/(Va_n‑Vb_n)*Va_n计算得到每个像素的增益G_n和偏移量OFFSET_n；根据y_n＝G_n*x_n+OFFSET_n对数字图像的每个像素x_n补偿得到补偿后的像素y_n。