[发明专利]一种纳滤传质及分离性能的检测方法及装置在审
| 申请号： | 201910345002.7 | 申请日： | 2019-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN109985528A | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 朱昊辰;杨冯睿;朱云杰;李光明;贺文智;黄菊文 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | B01D65/10 | 分类号： | B01D65/10 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 蔡彭君 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种纳滤传质及分离性能的检测方法及装置，其中方法包括：步骤S1：基于泊松‑能斯特‑普朗克理论，结合纳维斯托克斯方程，根据位阻效应、静电排斥和介电排斥三种效应，构建纳滤传质模型；步骤S2：输入膜微孔中流体的平均速率、进液成分；步骤S3：基于输入的平均速率、进液成分，结合纳滤传质模型得到膜的截留率、膜微孔内电场分布情况和膜微孔内离子浓度分布情况。与现有技术相比，本发明能非常快速的预测污染物在纳滤中截留性能，并分析其传质分离的机理。 | ||
| 搜索关键词： | 纳滤 传质 传质模型 分离性能 膜微孔 进液 电场分布 截留性能 静电排斥 浓度分布 截留率 输入膜 检测 流体 构建 介电 微孔 位阻 离子 污染物 排斥 预测 分析 | ||
【主权项】：
1.一种纳滤传质及分离性能的检测方法，其特征在于，包括：步骤S1：基于泊松‑能斯特‑普朗克理论，结合纳维斯托克斯方程，根据位阻效应、静电排斥和介电排斥三种效应，构建纳滤传质模型；步骤S2：输入膜微孔中流体的平均速率、进液成分；步骤S3：基于输入的平均速率、进液成分，结合纳滤传质模型得到膜的截留率、膜微孔内电场分布情况和膜微孔内离子浓度分布情况。
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