[发明专利]N型钝化接触电池的制作系统及方法在审
申请号: | 201910355012.9 | 申请日: | 2019-04-29 |
公开(公告)号: | CN109962126A | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 杨洁;郑霈霆;张昕宇;金浩 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 314416 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明技术方案公开了一种N型钝化接触电池的制作系统以及制作方法,通过PECVD组合边缘隔离技术,解决了LPCVD方法沉积n+多晶硅层绕镀以及PECVD沉积第二掩膜层造成的正面多晶硅薄膜边缘残留的问题,该技术方案可兼容于常规制作P型电池的产线,促进了N型钝化接触高效电池量产推进。 | ||
搜索关键词: | 钝化 制作系统 沉积 电池 多晶硅薄膜 多晶硅层 高效电池 隔离技术 组合边缘 掩膜层 产线 量产 制作 兼容 残留 | ||
【主权项】:
1.一种N型钝化接触电池的制作系统,其特征在于,所述制作系统包括:氧化设备,所述氧化设备用于对电池基片的背面进行氧化处理,在所述电池基片的背面形成遂穿氧化层;所述电池基片包括n型基底以及依次形成于所述n型基底正面的p+扩散层和第一掩膜层;LPCVD设备,所述LPCVD设备用于在所述隧穿氧化层表面形成n+多晶硅层,所述隧道氧化层和所述n+多晶硅层形成钝化接触;所述n+多晶硅层绕镀到所述n型基底的侧面和正面四周边缘区域;PECVD设备,所述PECVD设备用于形成覆盖所述n+多晶硅层的第二掩膜层;等离子刻蚀设备,所述等离子刻蚀设备用于通过边缘隔离去除绕镀到所述n型基底侧面和正面四周边缘区域的所述第二掩膜层;第一刻蚀设备,所述第一刻蚀设备用于基于所述第一掩膜层和所述第二掩膜层,去除绕镀到所述n型基底的侧面和正面四周边缘区域的所述n+多晶硅层;第二刻蚀设备,所述第二刻蚀设备用于去除所述第一掩膜层和所述第二掩膜层;钝化设备,所述钝化设备用于在所述p+扩散层的表面形成正面钝化层,在所述n+多晶硅层的表面形成背面钝化层;金属化设备,所述金属化设备用于形成正面电极和背面电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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