[发明专利]AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法

摘要

本发明涉及一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法。该电路包括：第一开关(SW1)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第一数据信号(Data R/B)，输出端连接第一检测数据信号线(CT R)；第二开关(SW2)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第二数据信号(Data B/R)，输出端连接第二检测数据信号线(CT B)；第三开关(SW3)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第三数据信号(Data G)，输出端连接第三检测数据信号线(CT G)；各类数据线分别连接第一检测数据信号线(CT R)、第二检测数据信号线(CT B)及第三检测数据信号线(CT G)。本发明不仅可以实现成盒检测电路的画面检测功能，且能实现电路修复，提升良率。

主权项

1.一种AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，包括：第一开关(SW1)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第一数据信号(Data R/B)，输出端连接第一检测数据信号线(CT R)；第二开关(SW2)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第二数据信号(Data B/R)，输出端连接第二检测数据信号线(CT B)；第三开关(SW3)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第三数据信号(Data G)，输出端连接第三检测数据信号线(CT G)；面板内的数据线按照其所连接子像素的排列方式分为第一类数据线、第二类数据线及第三类数据线，第一检测数据信号线(CT R)连接第一类数据线，第二检测数据信号线(CT B)连接第二类数据线，第三检测数据信号线(CT G)连接第三类数据线；第一检测数据信号线(CT R)、第二检测数据信号线(CT B)及第三检测数据信号线(CT G)在面板有效显示区两侧分别设有对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线，并且在面板有效显示区内垂直于数据线方向按照预设间隔分别设有连接两侧对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线的多条第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线。