[发明专利]一种结构光测距方法、装置及计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201910362864.0 | 申请日： | 2019-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN110231018B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 刘龙 | 申请（专利权）人： | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00;G01C11/14;G06T7/00;G06T7/55 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 孟学英 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种结构光测距方法、装置及计算机可读存储介质，方法包括：以预设投影频率和采集频率，向待测空间投射结构光并采集多帧图像，多帧图像至少包括第一图像和第二图像，第一图像包括环境光信息，第二图像包括环境光信息和结构光信息；将第一图像像素的第一灰度值与第二图像像素的第二灰度值进行比较；当第一灰度值大于或等于第二灰度值时，将第二图像像素与所述第一图像像素进行差分处理并获取差值，同时将差值作为当前第二图像像素的灰度值；反之，将第二灰度值作为当前第二图像像素的灰度值；计算当前第二图像的深度信息。通过对第一图像和第二图像对比分析，有效去除环境光的影响，提高结构光图像的精度，进而测量到较精确的深度值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 测距 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种结构光测距方法，其特征在于，包括如下步骤：以预设投影频率和采集频率，向待测空间投射结构光并采集多帧图像，所述多帧图像至少包括第一图像和第二图像，所述第一图像包括环境光信息，所述第二图像包括环境光信息和结构光信息；将所述第一图像像素的第一灰度值与所述第二图像像素的第二灰度值进行比较；当所述第一灰度值大于或等于所述第二灰度值时，将所述第二图像像素与所述第一图像像素进行差分处理并获取差值，同时将所述差值作为当前第二图像像素的灰度值；当所述第一灰度值小于所述第二灰度值时，将所述第二灰度值作为所述当前第二图像像素的灰度值；计算所述当前第二图像的深度信息。
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