[发明专利]存储器测试方法、装置、计算机设备以及存储介质有效
| 申请号： | 201910366150.7 | 申请日： | 2019-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN110120242B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 魏园洲;邓志欢 | 申请（专利权）人： | 珠海市杰理科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/14;G11C29/44 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄晶晶;黄晓庆 |
| 地址： | 519085 广东省珠海市吉*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种存储器测试方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：首先获取测试信号；先对未存有数据的区域进行第一内建自测测试，获取第一内建自测测试的测试结果；当第一内建自测测试通过时，迁移存有数据的区域内数据至未存有数据的区域，将第二测试信号写入测试控制模块，对存有数据的区域进行测试，根据测试的结果获取存储器的测试结果。本申请的存储器测试方法通过测试控制模块来对芯片内嵌内建自测测试进行控制，同时对存有数据的区域以及未存有数据的区域分别进行测试，使得内部存储器的内建自测测试最优化，从而缩短内建自测测试的测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 计算机 设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种存储器测试方法，其特征在于，应用于存储器测试系统，所述存储器测试系统包括相互连接的测试控制模块以及存储器内建自测电路，所述存储器内建自测电路与待测存储器连接；所述存储器测试方法包括：获取第一测试信号以及第二测试信号，所述第一测试信号用于对待测存储器中未存储数据的区域进行存储器内建自测测试，所述第二测试信号用于对待测存储器中存储数据的区域进行存储器内建自测测试；通过所述测试控制模块输入第一测试信号至存储器内建自测电路，对所述未存有数据的区域进行第一内建自测测试，获取所述第一内建自测测试的测试结果；当所述第一内建自测测试通过时，迁移所述存有数据的区域内数据至所述未存有数据的区域；通过所述测试控制模块输入第二测试信号至存储器内建自测电路，对所述存有数据的区域进行第二内建自测测试，根据所述第二内建自测测试的结果获取所述存储器的测试结果。
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