[发明专利]一种基于透射结构光的缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201910367328.X | 申请日： | 2019-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN110057841A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 岳慧敏;黄易杨;方宇耀;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人： | 葛启函 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种基于透射结构光的缺陷检测方法，用于检测高透射率被测物体的缺陷。首先产生条纹结构光投射到被测物体表面，条纹结构光透射经过被测物体后产生变形条纹结构光；采集变形条纹结构光，并利用调制度技术将采集到的光强图转换为调制度图；结合后续算法可得到被测物体的表面缺陷信息。此方法尤其适用于大尺寸大曲率玻璃盖板的缺陷检测。与反射系统相比，本发明提出的透射系统消除了寄生条纹的影响，提升了采集图像的条纹对比度，提高了原始图像的信噪比，改善了测量结果。整个检测流程中，不需要复杂的标定过程，也不需要积分重建出物体的高度信息，避免了积分算法带来的误差，具有快速、易操作、简单实用的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 被测物体 缺陷检测 变形条纹 条纹结构 透射结构 调制度 结构光 采集 被测物体表面 表面缺陷信息 条纹对比度 标定过程 玻璃盖板 采集图像 反射系统 高度信息 高透射率 积分算法 透射系统 原始图像 大曲率 光投射 光透射 图转换 信噪比 检测 条纹 光强 寄生 算法 重建 | ||
【主权项】：
1.一种基于透射结构光的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法用于检测高透射率被测物体的表面缺陷，包括如下步骤：步骤一、产生条纹结构光投射到被测物体表面，所述条纹结构光透射经过被测物体后产生变形条纹结构光；步骤二、采集所述变形条纹结构光；步骤三、将采集到的变形条纹结构光的光强图转换为调制度图；步骤四、根据所述调制度图得到被测物体的表面缺陷信息。
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