[发明专利]窄带滤波器的光谱测量装置及测量方法

摘要

一种窄带滤波器光谱测量系统装置，包括激光器，分束器，波长计，第一隔离器，放大器，第二隔离器，倍频晶体,准直镜，光阑，滤光片，分光镜，第一聚焦镜，第一探测器，位置控制系统，温度控制系统，窄带滤波器，第二聚焦镜，第二探测器，信号采集处理系统，信号发生器。本发明能够测量窄带滤波器在所需中心波长的最大透过率和透射光谱宽度，便于在高光谱分辨率激光雷达中安装窄带滤波器或者装校时，通过测量窄带滤波器在中心波长处的透过率，判断窄带滤波器的安装角度是否正确，中心波长是否位于所需波长。

主权项

1.一种窄带滤波器的光谱测量装置，其特征在于，包括激光器(1)，分束器(2)，波长计(3)，第一隔离器(4)，放大器(5)，第二隔离器(6)，倍频晶体(7),准直镜(8)，光阑(9)，滤光片(10)，分光镜(11)，第一聚焦镜(12)，第一探测器(13)，位置控制系统(14)，温度控制系统(15)，窄带滤波器(16)，第二聚焦镜(17)，第二探测器(18)，信号采集处理系统(19)和信号发生器(20)；所述的激光器(1)发射的连续光经过分束器(2)后分为两束，一束进入波长计(3)用于波长监测，另一束进入所述的第一隔离器(4)，经该第一隔离器(4)的出射光经过放大器(5)放大光束功率后，进入第二隔离器(6)，经该第二隔离器(6)的出射光经过倍频晶体(7)倍频成二倍频光，进入准直镜(8)后输出准直光束，该准直光束经过光阑(9)控制光斑大小后经滤光片(10)入射到所述的分光镜(11)，经该分光镜(11)分束为反射光束和透射光束，所述的反射光束经所述的第一聚焦镜(12)聚焦后，被所述的第一探测器(13)接收，用于反射光束的功率监测，所述的透射光束依次经所述的窄带滤波器(16)和第二聚焦镜(17)入射到第二探测器(18)进行透射光束的功率测量；所述的窄带滤波器(16)分别与所述的位置控制系统(14)和温度控制系统(15)相连，所述的信号采集处理系统(19)分别与所述的第一探测器(13)和第二探测器(18)相连，所述的信号发生器(20)与激光器(1)相连。