[发明专利]一种检测修复装置及检测修复方法有效
| 申请号： | 201910374057.0 | 申请日： | 2019-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN110112080B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 刘世奇 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L51/50;H01L51/56 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种检测修复装置及检测修复方法，该检测修复装置包括：载台，用于放置显示面板，所述载台上设置有多个检测孔；其中所述显示面板的截面结构包括阳极、有机发光层以及阴极，所述显示面板包括阴极输入端和阳极输入端；上盖，与所述载台可活动连接，所述上盖设于所述阴极上，所述上盖上设置有第一检测端子和第二检测端子，所述第一检测端子与所述阳极输入端连接，所述第二检测端子与所述阴极输入端连接；检测模块，用于通过所述检测孔检测显示面板是否存在暗点；修复模块，用于当所述显示面板存在暗点时，对所述显示面板的暗点进行修复。本发明的检测修复装置及检测修复方法，能够提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 修复 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测修复装置，其特征在于，包括载台，用于放置显示面板，所述载台上设置有多个检测孔；其中所述显示面板的截面结构包括阳极、有机发光层以及阴极，所述显示面板包括阴极输入端和阳极输入端；上盖，与所述载台可活动连接，所述上盖设于所述阴极上，所述上盖上设置有第一检测端子和第二检测端子，所述第一检测端子与所述阳极输入端连接，所述第二检测端子与所述阴极输入端连接；检测模块，用于通过所述检测孔检测显示面板是否存在暗点；修复模块，用于当所述显示面板存在暗点时，对所述显示面板的暗点进行修复。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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