[发明专利]一种缺陷深度检测方法有效
| 申请号： | 201910375549.1 | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110246118B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 李伟;左宪章;席雷平;杨森;霍晓燕;毛琼;郑翌洁 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军陆军工程大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/55;G01N25/20 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 米文智 |
| 地址： | 050003 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本申请适用于无损检测技术领域，提供了一种缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质，其中，上述方法包括：获取原始热成像图像序列，并对原始热成像图像序列进行线扫描，生成线扫描图像；根据线扫描图像提取裂纹深度特征；根据裂纹深度特征确定原始热成像图像序列中缺陷的深度。本申请实施例提供的缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质，改变了现有技术采用静态检测对热成像图像进行处理的方法，通过线扫描以及线扫描重建，得到热成像图像序列对应的线扫描图像，实现了高效率的动态检测，能够在扫描图像中提取的裂纹深度特征中包含各个像素点的连续温度变化信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 深度 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷深度检测方法，其特征在于，包括：获取原始热成像图像序列，并对所述原始热成像图像序列进行线扫描，生成线扫描图像；根据所述线扫描图像提取裂纹深度特征；根据所述裂纹深度特征确定所述原始热成像图像序列中缺陷的深度。
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