[发明专利]一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法在审
| 申请号： | 201910375817.X | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110018385A | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 刘振辉;王业文;王胜利 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/04 | 分类号： | G01R31/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格；能够快速检测串联或并联的多个元器件电连接后的串联电压或并联电流是否合格，提高多元器件经过电连接后的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 元器件 串联 电连接 多元器件 快速判断 测试 并联电流 测试效率 快速检测 正常电压 正整数 并联 | ||
【主权项】：
1.一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格。
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