[发明专利]一种基于电阻率等值性原理的电磁测深约束反演方法

摘要

本发明公开了一种基于电阻率等值性原理的电磁测深约束反演方法，属于地球物理勘探领域，其特征在于，包括以下步骤：a、假设一次反演的结果为m，对其正演响应求层厚的导数，得到Δm；b、将Δm作为各层S等值性收敛算法中ε对应的系数；c、利用S等值性进行低阻薄层收敛；得到收敛后的薄层电阻率和薄层厚度；d、利用H等值性进行高阻薄层厚度补偿，将低阻薄层减少的厚度的1/2加到上层高阻薄层中，求得高阻薄层的电阻率。本发明能实现在没有任何已知条件的情况下同时获取较为准确的高阻薄层和低阻薄层电阻率信息，提高反演解释精度；计算速度快，适应性强。

主权项

1.一种基于电阻率等值性原理的电磁测深约束反演方法，其特征在于，包括以下步骤：a、假设一次反演的结果为m，对其正演响应求层厚的导数，将负的导数值作归一化处理，正的导数值取0，得到Δm；b、将Δm作为各层S等值性收敛算法中ε对应的系数；c、利用S等值性进行低阻薄层收敛，通过式1迭代求得式2；通过反演的数据解出第m层z_m、h_m和ρ_m，按Δ的速度逐渐减小h_m的值，每减小一次h_m的值便迭代计算出唯一对应的ρ_m，直到h_m和ρ_m的值满足式1，收敛结束，得到收敛后的薄层电阻率和薄层厚度；其中，f为模型响应函数，hm为第m层的厚度，Δh_m为第m层的厚度变化量，ρ_m为第m层的电阻率，Δρ_m为第m层的电阻率变化量，ε为收敛程度；其中，ρ_m为第m层的电阻率，Z_m为第m层顶界面的波阻抗，i为虚数，ω为角频率，μ为磁导率，Z_m+1为第m+1层顶界面的波阻抗，Z_0m为第m层介质的特征阻抗，e为自然对数的底数，k_m为第m层的复波数，hm为第m层的厚度；d、利用H等值性进行高阻薄层厚度补偿，将低阻薄层减少的厚度的1/2加到上层高阻薄层中，随后再次利用式2进行迭代，求得高阻薄层的电阻率。