[发明专利]用于对RF线圈进行质量分析的方法和磁共振成像设备有效
申请号: | 201910395778.X | 申请日: | 2019-05-13 |
公开(公告)号: | CN110501662B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | P.穆利希;A.波特哈斯特 | 申请(专利权)人: | 西门子医疗有限公司 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055;G01R33/36;G01R33/385 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 侯宇 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于对RF线圈进行质量分析的方法和磁共振成像设备。本发明涉及一种用于对磁共振成像设备(1)的RF线圈(3)进行质量分析(QA)的方法,其中,在工作模式下,RF线圈(3)被设计为用于从要观察的对象获取MR信号,所述方法在测试模式下包括:‑由RF发射器(5)发射测试信号(20),‑由RF线圈(3)直接接收来自RF发射器(5)的测试信号(20),其中,RF线圈(3)提供输出信号(21),以及‑通过分析RF线圈(3)的输出信号(21)提供性能指示(11),以进行质量分析。 | ||
搜索关键词: | 用于 rf 线圈 进行 质量 分析 方法 磁共振 成像 设备 | ||
【主权项】:
1.一种用于对磁共振成像设备(1)的RF线圈(3)进行质量分析(QA)的方法,其中,在工作模式下,RF线圈(3)被设计为用于从要观察的对象获取MR信号,所述方法在测试模式下包括:/n-由RF发射器(5)发射测试信号(20),/n-由RF线圈(3)直接接收来自RF发射器(5)的测试信号(20),其中,RF线圈(3)提供输出信号(21),以及/n-通过分析RF线圈(3)的输出信号(21)提供性能指示(11),以进行质量分析。/n
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