[发明专利]用于对RF线圈进行质量分析的方法和磁共振成像设备有效

专利信息
申请号: 201910395778.X 申请日: 2019-05-13
公开(公告)号: CN110501662B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: P.穆利希;A.波特哈斯特 申请(专利权)人: 西门子医疗有限公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;G01R33/36;G01R33/385
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 侯宇
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于对RF线圈进行质量分析的方法和磁共振成像设备。本发明涉及一种用于对磁共振成像设备(1)的RF线圈(3)进行质量分析(QA)的方法,其中,在工作模式下,RF线圈(3)被设计为用于从要观察的对象获取MR信号,所述方法在测试模式下包括:‑由RF发射器(5)发射测试信号(20),‑由RF线圈(3)直接接收来自RF发射器(5)的测试信号(20),其中,RF线圈(3)提供输出信号(21),以及‑通过分析RF线圈(3)的输出信号(21)提供性能指示(11),以进行质量分析。
搜索关键词: 用于 rf 线圈 进行 质量 分析 方法 磁共振 成像 设备
【主权项】:
1.一种用于对磁共振成像设备(1)的RF线圈(3)进行质量分析(QA)的方法,其中,在工作模式下,RF线圈(3)被设计为用于从要观察的对象获取MR信号,所述方法在测试模式下包括:/n-由RF发射器(5)发射测试信号(20),/n-由RF线圈(3)直接接收来自RF发射器(5)的测试信号(20),其中,RF线圈(3)提供输出信号(21),以及/n-通过分析RF线圈(3)的输出信号(21)提供性能指示(11),以进行质量分析。/n
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