[发明专利]储层不可及孔隙体积确定方法及装置有效
申请号: | 201910397225.8 | 申请日: | 2019-05-14 |
公开(公告)号: | CN110095399B | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 赵传峰;张鑫;曹博文;王冰飞 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王天尧;任默闻 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种储层不可及孔隙体积确定方法及装置,其中,该方法包括以下步骤:获得测试储层的所有孔隙孔径数据,将所有孔隙孔径数据按照从小到大顺序进行排列;获得聚合物的所有分子团粒径数据,将所有分子团粒径数据按照从小到大顺序进行排列;对排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据进行分析,根据不同的分析结果,采用不同的计算方法计算测试储层的不可及孔隙体积IPV。该方案根据聚合物分子团的粒径分布和储层孔隙孔径分布数据直接计算出不可及孔隙体积IPV,就无需通过室内驱替实验进行测定,从而缩短测试时间,节约测试成本,提高测试精度。 | ||
搜索关键词: | 不可 孔隙 体积 确定 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种储层不可及孔隙体积确定方法,其特征在于,包括:获得测试储层的所有孔隙孔径数据,将所有孔隙孔径数据按照从小到大顺序进行排列;获得聚合物的所有分子团粒径数据,将所有分子团粒径数据按照从小到大顺序进行排列;对排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据进行分析:当分析得到排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据均是离散的,采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV:计算每一个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律;根据每一个孔隙孔径对应的分子团粒径临界值以及所有分子团粒径数据,计算每一个孔隙孔径数据点对应的IPV值;根据每一个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律、每一个孔隙孔径数据点对应的IPV值,计算测试储层的不可及孔隙体积IPV;当分析得到孔隙孔径的区间和分布频率以及分子团粒径的区间和分布频率时,采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV:根据每一个孔隙孔径区间的分布频率,计算每一个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律;根据每一个孔隙孔径区间对应的分子团粒径区间临界值以及所有分子团粒径区间的分布频率,计算每一个孔隙孔径区间对应的IPV值;根据每一个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律、每一个孔隙孔径区间对应的IPV值,计算测试储层的不可及孔隙体积IPV;当分析得到孔隙孔径的分布概率密度函数以及分子团粒径的分布概率密度函数时,采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV:根据孔隙孔径的分布概率密度函数,计算任一孔隙孔径对应的IPV值概率密度函数;根据任一孔隙孔径对应的分子团粒径临界值以及分子团粒径的分布概率密度函数,计算任一孔隙孔径对应的IPV值;根据任一孔隙孔径对应的IPV值概率密度函数、任一孔隙孔径对应的IPV值,计算测试储层的不可及孔隙体积IPV。
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