[发明专利]图像拼接质量的测评方法及装置有效
| 申请号： | 201910402871.9 | 申请日： | 2019-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN110276744B | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 李甲;虞开稳;赵一凡;赵沁平 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/40 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;刘芳 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区学*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种图像拼接质量的测评方法及装置，所述方法包括：获取待评测图像的第一属性信息和参考图像的第二属性信息，第一属性信息包括待评测图像的盲区信息、像素点信息和频率信息，第二属性信息包括参考图像的像素点信息和频率信息，待评测图像为拼接至少两个第一图像得到的，参考图像为拼接至少两个第二图像得到的，根据第一属性信息和所述第二属性信息，确定待评测图像的拼接质量。用于提高对待评测图像的拼接质量进行测评的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 图像 拼接 质量 测评 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种图像拼接质量的测评方法，其特征在于，包括：获取待评测图像的第一属性信息和参考图像的第二属性信息，所述第一属性信息包括所述待评测图像的盲区信息、像素点信息和频率信息，所述第二属性信息包括所述参考图像的像素点信息和频率信息，所述待评测图像为拼接至少两个第一图像得到的，所述参考图像为拼接至少两个第二图像得到的；根据所述第一属性信息和所述第二属性信息，确定所述待评测图像的拼接质量。
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