[发明专利]结晶度检测装置在审
| 申请号： | 201910402987.2 | 申请日： | 2019-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN110487753A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 徐智勳;韩世光;粱炅镐;禹炫朱;郑锡宇 | 申请（专利权）人： | 三星显示有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李盛泉;刘灿强<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开一种结晶度检测装置。本发明的结晶度检测装置包括：光源，沿第一方向布置于结晶化的基板的第一侧，并向所述结晶化的基板照射光；摄像元件，布置在相反于所述第一侧的与所述结晶化的基板的第二侧，并拍摄所述结晶化的基板的图像；偏光板，布置于所述结晶化的基板和摄像元件之间，并相对于所述结晶化的基板以第一角度或者第二角度布置；以及控制部，连接在所述摄像元件，测量透过分别以第一角度和第二角度布置时的偏光板的透光率差异。 | ||
| 搜索关键词： | 结晶化 基板 摄像元件 检测装置 角度布置 结晶度 偏光板 基板照射光 透光率 光源 测量 图像 拍摄 | ||
【主权项】：
1.一种结晶度检测装置，其中，包括：/n光源，沿第一方向布置于结晶化的基板的第一侧，并向所述结晶化的基板照射光；/n摄像元件，沿第一方向布置在相反于所述第一侧的所述结晶化的基板的第二侧，并拍摄所述结晶化的基板的图像；/n偏光板，布置于所述结晶化的基板和摄像元件之间，并相对于所述结晶化的基板以第一角度或者第二角度布置；以及/n控制部，连接在所述摄像元件，测量透过分别以第一角度和第二角度布置时的偏光板的透光率差异。/n
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