[发明专利]基于小波变换的磁流变去除函数寄生条纹消除方法及装置有效
| 申请号： | 201910410490.5 | 申请日： | 2019-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN110227968B | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 唐才学;徐凯源;温圣林;颜浩;张远航;嵇保建;王翔峰;石琦凯;邓燕;王健 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G01B11/24;B24B1/00;B24B13/00 |
| 代理公司： | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 曹鹏飞 |
| 地址： | 621900*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于小波变换的磁流变去除函数寄生条纹消除方法及装置，该方法能够准确去除寄生条纹，达到磁流变去除函数的精确提取，适用范围广，对于传统频域带阻滤波无法解决的寄生条纹和原始数据频谱严重混叠的情况，仍然适用，是一种较好的寄生条纹去除方法，可以有效应用于消除磁流变去除函数寄生条纹，实现磁流变去除函数的准确提取。同时也可以较好的用于其它超精密加工方式,如气囊抛光、离子束抛光等的去除函数寄生条纹的消除，便于推广应用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 变换 流变 去除 函数 寄生 条纹 消除 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.基于小波变换的磁流变去除函数寄生条纹消除方法，其特征在于，包括：获取含有寄生条纹的干涉仪采斑测量面形数据矩阵f1(x,y)；提取所述面形数据矩阵f1(x,y)中的局部数据，所述局部数据为：含有寄生条纹，且不含有去除函数形状；计算所述寄生条纹的空间周期T；采用sym5小波对所述面形数据矩阵f1(x,y)进行多级分解，分解级数为N，得到3N+1个系数矩阵数据；所述N根据所述空间周期T计算获得；分析3N+1个所述系数矩阵数据，记录含有寄生条纹的系数矩阵为Sj；其中j＝1～K，K为含有寄生条纹的系数矩阵的个数，且K≤3N+1；对含有寄生条纹的系数矩阵Sj进行处理，消除其中的寄生条纹特征。
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