[发明专利]一种存储设备的测试方法、测试设备及计算机存储介质在审
| 申请号： | 201910410919.0 | 申请日： | 2019-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN110321256A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 喻文躜;梁小庆;邓恩华 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种存储设备的测试方法、测试设备及计算机存储介质，该存储设备包括至少一个裸片，该方法包括向存储设备的裸片的寄存器中写入第一数据；从寄存器中读取第二数据；判断第一数据与第二数据是否相同，得到测试结果。利用上述方式，本申请提高对存储设备的测试强度，且不会对存储设备的寿命产生不良影响。 | ||
| 搜索关键词： | 存储设备 计算机存储介质 测试设备 第一数据 寄存器 测试 裸片 读取 申请 写入 | ||
【主权项】：
1.一种存储设备的测试方法，所述存储设备包括至少一个裸片，其特征在于，包括：向所述存储设备的裸片的寄存器中写入第一数据；从所述寄存器中读取第二数据；判断所述第一数据与所述第二数据是否相同，得到测试结果。
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