[发明专利]一种颗粒物化学组分测量系统及方法有效
申请号: | 201910413206.X | 申请日: | 2019-05-17 |
公开(公告)号: | CN110018090B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 王炜罡;张人一;彭超;刘明元;葛茂发 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 丛洪杰;和欢庆 |
地址: | 100190 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种颗粒物化学组分测量系统及方法,属于环境监测技术领域,解决了现有技术中只能测量颗粒物的有机化学成分,不能测量颗粒物的无机化学成分,并且无法准确获得粒径小于50nm的颗粒物化学组成的问题。颗粒物化学组分测量系统,包括依次连接的荷电单元、富集单元、热解吸单元和检测单元;荷电单元包括荷电器,用来使颗粒物带电;富集单元通过电富集来富集带电的颗粒物。本发明实现了对粒径小于50nm的颗粒物化学组成的测定问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 颗粒 物化 组分 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,包括依次连接的荷电单元、富集单元、热解吸单元和检测单元;所述荷电单元包括荷电器,用来使颗粒物带电;所述富集单元通过电富集来富集带电的颗粒物。
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