[发明专利]一种颗粒物化学组分测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910413206.X 申请日: 2019-05-17
公开(公告)号: CN110018090B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 王炜罡;张人一;彭超;刘明元;葛茂发 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 丛洪杰;和欢庆
地址: 100190 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种颗粒物化学组分测量系统及方法,属于环境监测技术领域,解决了现有技术中只能测量颗粒物的有机化学成分,不能测量颗粒物的无机化学成分,并且无法准确获得粒径小于50nm的颗粒物化学组成的问题。颗粒物化学组分测量系统,包括依次连接的荷电单元、富集单元、热解吸单元和检测单元;荷电单元包括荷电器,用来使颗粒物带电;富集单元通过电富集来富集带电的颗粒物。本发明实现了对粒径小于50nm的颗粒物化学组成的测定问题。
搜索关键词: 一种 颗粒 物化 组分 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种颗粒物化学组分测量系统,其特征在于,包括依次连接的荷电单元、富集单元、热解吸单元和检测单元;所述荷电单元包括荷电器,用来使颗粒物带电;所述富集单元通过电富集来富集带电的颗粒物。
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