[发明专利]一种巨介电薄膜晶体管在审

专利信息
申请号: 201910414063.4 申请日: 2019-05-17
公开(公告)号: CN110148632A 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 兰林锋;陈卓;彭俊彪 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/51
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 赵蕊红
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种巨介电薄膜晶体管,设置有栅极和半导体以及位于栅极和半导体层之间的栅绝缘层。所述栅绝缘层为采用巨介电材料作为栅绝缘层。巨介电材料处于陶瓷块状态时,在频率1kHz下相对介电常数大于10000,巨介电材料处于薄膜状态时,在1kHz下相对介电常数大于500。所述巨介电材料为非铁电陶瓷材料。与离子双电层作为TFT的栅绝缘层相比,本发明的巨介电薄膜晶体管具有频率响应好的优势,反相器频率响应大于500Hz,并且低耗电路,因此在显示器领域中具有良好的应用潜力。同时本发明的巨介电薄膜晶体管采用为非铁电材料制备而成,因此无迟滞现象。
搜索关键词: 巨介电材料 介电薄膜 栅绝缘层 晶体管 相对介电常数 频率响应 非铁 电陶瓷材料 半导体层 薄膜状态 应用潜力 电材料 反相器 双电层 陶瓷块 状态时 迟滞 制备 显示器 半导体 离子 电路
【主权项】:
1.一种巨介电薄膜晶体管,其特征在于:设置有栅极和半导体以及位于栅极和半导体层之间的栅绝缘层;所述栅绝缘层采用巨介电材料作为栅绝缘层;巨介电材料处于陶瓷块状态时,在频率1kHz下相对介电常数大于10000,巨介电材料处于薄膜状态时,在1kHz下相对介电常数大于500;所述巨介电材料为非铁电陶瓷材料。
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