[发明专利]钢带晶粒的评价方法有效
申请号: | 201910416402.2 | 申请日: | 2019-05-20 |
公开(公告)号: | CN110057650B | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 钟发平;肖腾彬;李星;彭为;李佳;候群;夏健康 | 申请(专利权)人: | 常德力元新材料有限责任公司 |
主分类号: | G01N1/32 | 分类号: | G01N1/32;G01N15/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 415004 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: |
本发明提供了一种钢带晶粒的评价方法,将具备完整的晶粒边界模型使用扫描电镜按设定放大倍数进行放大并拍下图片,计算所拍图片中的样品面积S,在所拍图片上选择n个完整晶粒,对n个完整晶粒依次编号为1~n,n为正整数,测量每个完整晶粒的横向直径和纵向直径,将各个完整晶粒的横向直径、纵向直径中较小者作为各完整晶粒的小直径X |
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搜索关键词: | 晶粒 评价 方法 | ||
【主权项】:
1.一种钢带晶粒的评价方法,其特征在于:取样制成具备完整的晶粒边界模型,将具备完整的晶粒边界模型使用扫描电镜按设定放大倍数进行放大并拍下图片,计算所拍图片中的样品面积S,在所拍图片上选择n个完整晶粒,对n个完整晶粒依次编号为1~n,n为正整数,测量每个完整晶粒的横向直径和纵向直径,将各个完整晶粒的横向直径、纵向直径中较小者作为各完整晶粒的小直径X_n,将各个完整晶粒的横向直径、纵向直径中较大者作为各完整晶粒的大直径Y_n,按公式(1)计算各完整晶粒的均一因子Hr_n,按公式(2)计算具备完整的晶粒边界模型的均一因子Hr,按公式(3)计算具备完整的晶粒边界模型的每平方毫米的晶粒数N,Hr_n=X_n/Y_n………………………………………………………………(1),其中,为n个完整晶粒的均一因子平均值;为n个完整晶粒的小直径平均值;为n个完整晶粒的大直径平均值;表1根据所得到的具备完整的晶粒边界模型的均一因子Hr和具备完整的晶粒边界模型的每平方毫米的晶粒数N对照表1评价该钢带晶粒均一性。
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