[发明专利]一种双列单晶中子分析器单元在审
申请号: | 201910418644.5 | 申请日: | 2019-05-20 |
公开(公告)号: | CN110082376A | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 张红霞;汪晋辰;程鹏;刘娟娟;徐大业;鲍威 | 申请(专利权)人: | 中国人民大学 |
主分类号: | G01N23/204 | 分类号: | G01N23/204;G01N23/207 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 谢斌 |
地址: | 100872 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种双列单晶中子分析器单元,包括:底板,用于定位在光路系统中;分析器支架,设置在所述底板上且呈音叉形;第一列单晶,设置在所述分析器支架的前侧;第二列单晶,设置在所述分析器支架的后侧。本发明的分析器支架采用布置两列单晶且均以Rowland圆为聚焦模式,既能满足能量分辨率要求,又能充分利用中子束中子通量大幅提高。同时,该分析器支架采用梯形燕尾槽和梯形燕尾导轨的配合使用,既方便安装多个分析器支架安装又能够高精度地保证同轴性,可以探测更多种能量的中子,使得不同能量的中子分析器探测的动量点具有可比性。 | ||
搜索关键词: | 分析器 单晶 支架 底板 分析器单元 双列 探测 动量 能量分辨率 梯形燕尾槽 光路系统 聚焦模式 梯形燕尾 支架安装 中子通量 可比性 同轴性 音叉形 中子束 导轨 保证 | ||
【主权项】:
1.一种双列单晶中子分析器单元,其特征在于,包括:底板(70),用于定位在光路系统中;分析器支架(10),设置在所述底板(70)上且呈音叉形;第一列单晶(20),设置在所述分析器支架(10)的前侧;第二列单晶(30),设置在所述分析器支架(10)的后侧。
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