[发明专利]用于选择性修饰聚合物亚单位以改进基于纳米孔的分析的方法和系统有效
| 申请号： | 201910422919.2 | 申请日： | 2014-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN110124515B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | J·H·贡德拉赫;A·拉斯兹罗;I·德尔林顿;J·G·曼德尔 | 申请（专利权）人： | 华盛顿大学商业中心;伊路明纳股份有限公司 |
| 主分类号： | B01D57/02 | 分类号： | B01D57/02;G01N33/487 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 刘晓东 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于改善聚合物的基于纳米孔的分析的方法和系统。本公开内容提供了选择性修饰一种预分析物聚合物的一种的一个或多个单体亚单位的方法，其导致聚合物分析物具有被修饰亚单位。所述聚合物分析物在基于纳米孔的系统中产生可检测的信号。所述可检测信号和/或其与参考信号的偏差表明在所述聚合物分析物中所述被修饰亚单位的位置，从而允许在原始预分析物聚合物中那个位置的亚单位的鉴定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 选择性 修饰 聚合物 单位 改进 基于 纳米 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种检测核酸聚合物中靶核碱基亚基存在的方法，包括：(a)选择性修饰预分析物核酸聚合物的靶核碱基亚基以产生核酸聚合物分析物；(b)通过纳米孔将包含经修饰的核碱基亚基的核酸聚合物分析物从第一导电液体介质转移至第二导电液体介质，其中所述纳米孔在第一导电液体介质和第二导电液体介质之间提供液体连通；(c)当核酸聚合物分析物通过纳米孔时测量第一导电液体介质和第二导电液体介质之间的离子电流，其中所述选择性修饰的靶核碱基亚基产生与对核酸聚合物分析物中的未修饰靶核碱基亚基可以观察到的离子电流可测量地不同的离子电流；和(d)基于该可测量地不同的离子电流检测核酸聚合物分析物中的经修饰的亚基，其中经修饰的亚基的存在表明在预分析物核酸聚合物中存在靶核碱基。
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