[发明专利]电缆绝缘超低频介损检测的判据体系构建方法

摘要

本发明请求保护一种电缆绝缘超低频介损检测的判据体系构建方法，通过对配网电缆超低频介损测量数据的分析，在现有的电缆超低频介损检测三大判据的基础上，提取新的特征量：反向介损变化率和介损极差，并且吸纳韩国电力公司Skirt判据，从而形成更为完善的超低频介损检测判据体系，为我国配网电缆超低频介损老化状态评价规程的制定提供了参考。

主权项

1.一种电缆绝缘超低频介损检测的判据体系构建方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：采集现有电缆超低频介损检测的原始数据，其中包括有0.5U₀、U₀、1.5U₀下每个测量周期的介损值，U₀表示测量电缆运行的额定电压，对于10kV交流线路，电缆额定电压等级为8.7/10kV，则U₀为8.7kV，并按照现有的IEEE400.2‑2013超低频介损判据进行状态分级，分为正常状态(无需采取检修行动)、注意状态(建议进一步测试)和异常状态(需要采取检修行动)。S2：对所测量得到的不同状态的电缆介损数据进行绘图分析，由于每次电缆的超低频介损测量会测量0.5U₀、U₀、1.5U₀三个电压下多个测量周期的数据，以奥地利保尔的介损测量系统为例，会在每个测量电压下测试8个周期的数据。因此绘制的图形是介损值随着测量次数，也是测量时间的变化规律。根据图形观察分析提取特征量；S3：通过数据分析，提出反向介损变化率和介损极差两个新的介损检测判据，反向介损变化率，和介损极差，介损反向变化率定义为0.5U₀和1.5U₀的介损平均值之差(0.5U₀‑1.5U₀)，为正值；介损极差定义为在3个测试电压24个测量周期介损最大值与最小值之差，又结合韩国电力公司Skirt判据，Skirt定义为1.5U0下所测8个周期介损最大值与最小值之差，配合现有的介损平均值、介损变化率和介损随时间稳定性，得到更为完善的超低频介损检测判据体系，共同对电缆绝缘状态进行评价。