[发明专利]一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置

摘要

本发明公开了一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置及方法。该测量装置包括窄线宽激光器，强度型电光调制器，单模光纤耦合器，可调光衰减器，电动光纤延迟线，待测高速光电探测器，射频开关和矢量网络分析仪。本发明利用微波光子技术，通过电光调制器将微波信号加载到光波上，利用可调光衰减器和电动光纤延迟线将待测的多条链路之间的延迟进行精准匹配，利用矢量网络分析仪分析微波信号的位相变化来实现高速光电探测器相位响应一致性的测量。本发明的测量方法具有极佳的抗环境干扰能力，操作简单，无需复杂的数学计算，测量速度快，测量精度高，并且不受环境因素影响等优点非常适合于工业现场测量。

主权项

1.一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置，其特征在于：包括窄线宽激光器、强度型电光调制器、单模光纤耦合器、可调光衰减器、电动光纤延迟线、待测高速光电探测器、射频开关和矢量网络分析仪；所述窄线宽激光器发出单色偏振光入射所述强度型电光调制器，所述矢量网络分析仪的输出端输出扫频的微波射频信号进入所述电光调制器；所述强度型电光调制器将微波射频信号加载到光波上而输出光载微波信号，所述光载微波信号从所述强度型电光调制器输出后经所述单模光纤耦合器后分成两路微波光子链路，分别为微波光子链路A和微波光子链路B；所述微波光子链路A路光依次经过所述可调光衰减器、所述电动光纤延迟线和所述待测高速光电探测器后通过所述射频开关的选通进入所述矢量网络分析仪的接收端；所述微波光子链路B路光依次经过所述可调光衰减器、所述电动光纤延迟线和所述待测高速光电探测器后通过所述射频开关的选通进入所述矢量网络分析仪的接收端。