[发明专利]一种阻变存储器及其制备方法有效
申请号: | 201910428920.6 | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN110676374B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 徐文彬;李明逵 | 申请(专利权)人: | 集美大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 马小星 |
地址: | 361021 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明属于存储器技术领域,具体涉及一种阻变存储器及其制备方法。本发明提供的制备方法,包括以下步骤:在底电极上沉积阻变材料,形成非晶态阻变层;在所述非晶态阻变层上制备纳米管阵列,形成屏蔽层;对形成所述屏蔽层的整体结构进行氧气等离子强化退火处理,将所述非晶态阻变层转为高结晶阵列区;去除所述屏蔽层,并在所述高结晶阵列区的表面制备顶电极,得到阻变存储器。实施例结果表明,本发明提供的阻变存储器稳定性得到显著改善,500次阻变循环后,存储窗口大小的最大变化约为‑1.7%,3000次阻变循环后,存储窗口大小的最大变化约为‑6.3%,显示了较好的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种阻变存储器的制备方法,包括以下步骤:/n在底电极上沉积阻变材料,形成非晶态阻变层;/n在所述非晶态阻变层上制备纳米管阵列,形成屏蔽层;/n对形成所述屏蔽层的整体结构进行氧气等离子强化退火处理,将所述非晶态阻变层转为高结晶阵列区;/n去除所述屏蔽层,并在所述高结晶阵列区的表面制备顶电极,得到阻变存储器。/n
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